动态光散射法纳米颗粒测量技术有哪些新发展

动态光散射DLS技术测量粒子粒径，具有准确、快速、可重复性好等优点，已经成为纳米科技中比较常规的一种表征方法。动态光散射法测量纳米颗粒的基本原理是基于纳米颗粒的布朗运动，在此基础上发展了多种测量方法。近年来发展了几种新的纳米颗粒测量技术：

（1） 可视动态光散射法

该方法由英国NanoSight Company的Carr博士提出。它的基本原理是悬浮在液体中的纳米颗粒在激光照射下，由于颗粒的折射率与液体不同，会产生散射，形成光质点。

连续拍摄光质点的布朗运动图像，记录下颗粒的运动轨迹，再对这些运动轨迹进行处理，就可以由Stocks-Einstein公式得到颗粒的粒度。在该方法中由于是对每个颗粒的布朗运动轨迹进行跟踪及数学处理，所以可以得到比现有PCS法高得多的粒度分辨力。

对于团聚颗粒，其散射光质点的形状与单颗粒的形状不同，很容易区分，因此，采用该方法可以比较有效地测量易团聚的颗粒，以及不同物质的混合颗粒。

显微镜在使用时视野和景深是确定的，也就是说测量体积是确定的，因此记录下测量体内的所有颗粒数，还可以得到颗粒的浓度。

由于这种方法直接观察纳米颗粒的布朗运动，所以将这种方法称为“可视动态光散射法”。

 

（2）电泳诱导光栅动态光散射法

该方法由日本岛津公司于2009年提出，其基本原理是纳米颗粒悬浮液在交替布置的电极片上会随电极极性的交替改变产生浓度变化。当电极带电时，纳米颗粒会在电场作用下向正极运动，形成高浓度区域，产生光栅效应。

然后将电极改变极性，纳米颗粒会向反方向扩散运动，该诱导光栅逐渐消失。粒度大的颗粒扩散速度较慢，而粒度小的颗粒扩散速度较快。如果一束激光透过该诱导光栅产生的散射光被光电探测器所接收，根据测得的散射光变化过程，用Stocks-Einstein公式，可以得到颗粒的粒度分布。

在该方法中测量的是纳米颗粒形成的诱导光栅的散射光，不是纳米颗粒的散射光，因此该法具有很高的信噪比和很好的重复性，同时对混入样品中的少量较大杂质颗粒不敏感。可用于高浓度纳米颗粒测量。据报道该方法的测量下限可达0.5nm。

 

（3）后向动态光散射法

在应用传统的光子相关光谱法时，为了避免多次散射(Multiple scattering)，对样品的浓度有严格限制，在90°采光时试样在工作波长处的吸光度不宜超过0.04。在这一限制下，传统光子相关光谱法样品的浓度极低，外观是澄清透明的。

实际上，大多数胶体产品原样的体积浓度在5 %以上，外观是浑浊的，用传统光子相关光谱法分析前不得不对之作高倍率的稀释，这既不便于使用，又可能会破坏胶体的稳定性；另一方面，传统光子相关光谱法的粒度分析很容易受到外界污染的干扰，由此，可用于高浓度纳米级胶粒粒度分析的后向动态光散射技术应运而生。

提高测量浓度的解决方案是保证散射体积足够小，降低多次散射光在信号光中的比重。此外，将发射端和接收端布置于试样的同侧，即测量后向散射光信号，并适当控制散射区域大小，可以获得更理想的抑制多次散射的效果。据报道Cordouan Technologies公司的VASCO粒度分析仪采用该方案将体积测量浓度提高到40%。

后向散射光测量的另一种改进见图。激光器发出的光经2+1光耦合器进入一单模光纤，在该单模光纤出射的测量光被纳米颗粒散射后，其后向散射光又被该单模光纤接收，叠加在被该单模光纤端部内表面反射的测量光上，叠加了信号光的反射光在光纤内返回，经光耦合器和光纤到达光探测器被检测。

对检测到的随机信号作傅里叶变换得到该信号的功率谱，然后对不同频段的功率谱信号用Stocks-Einstein公式处理，就可以得到纳米颗粒的粒度分布。

该方法的优点是适合于高浓度纳米颗粒测量，因采用单模光纤作为信号传感器件直接测得颗粒的随机运动信号，不再需要昂贵复杂的相关器，极大降低了仪器的成本和简化了结构，而且易于实现在线测量，用于过程控制。

由于该方法测量的是高浓度纳米颗粒，因此对混入样品的少数较大粒径杂质颗粒不敏感。