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BeNano 180 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪

简要描述:BeNano 180 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-26
  • 访  问  量: 3605

详细介绍

产品介绍

BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

BeNano 180 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪


基本性能指标

粒径检测

  原理  动态光散射技术
  粒径范围  0.3 nm – 10 μm 
  样品量  40 μL – 1 mL 
  检测角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

  原理  相位分析光散射技术
  检测角度  1
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  >±20 μm.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – 120 μm  

分子量测试

  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da    

微流变测试

  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 

粘度和折光率测试

  粘度范围  0.01 cp – 100 cp
  折光率范围  1.3-1.6

趋势测试

  时间和温度

系统参数

  温控范围  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  标准激光光源  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  相关器  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)
  光强控制  0.0001%  - 100%,手动或者自动  

软件

 中文和英文 符合21CFR Part 11


检测参数


●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度



检测技术

●动态光散射

●电泳光散射

●静态光散射


BeNano 180 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪



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